主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。新材料及新工藝,提升了產(chǎn)品的品 質(zhì)及測(cè)量精度。當(dāng)產(chǎn)品的輻射干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率 的干擾。EM8030 是一種磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),可以精確定位磁場(chǎng)干擾源。當(dāng)干 擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合本公司的 EM8020A(20dB 增益)或者 EM8020B(30dB 增益)前置放大器可以提高系 統(tǒng)測(cè)試靈敏度。